木谷電器株式会社


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※あくまで一例です。試験機の仕様範囲内の試験条件であればご利用いただけます。

<試験概要>
低温と高温の温度変化を交互に繰り返し、評価対象物にストレスを加える試験です。

<試験手順>
1)前処理
試験開始時には、評価対象物及び試験槽内の温度は、25℃±5℃とする。
2)試験サイクル
規定のさらし温度(高温、低温)、さらし時間、サイクル数で試験を行う。
図1に温度サイクル試験の温度変化グラフを示します。


       図1 温度サイクル試験の温度変化
3)後処理
試験後、評価対象物の温度が安定するまで十分な時間、標準大気状態にする。

4)評価対象物の評価
試験前後の外観、クラックや破壊、電気的性能や機械的性能の違いなどから評価する。

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